全自動激光粒度儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產(chǎn)品,主要用于測量顆粒的粒徑分布。利用光散射原理來測量顆粒的粒徑分布。當激光照射到顆粒上時,顆粒會產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象,不同粒徑的顆粒會產(chǎn)生不同的散射光分布。通過檢測和分析這些散射光的分布,可以反推出顆粒的粒徑分布。
  全自動激光粒度儀主要由激光器、樣品池、光學系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學系統(tǒng)聚焦后,照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學系統(tǒng)收集,并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉(zhuǎn)換成電信號,數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對這些電信號進行分析和處理,最終得到顆粒的粒徑分布信息。
  1、全量程米氏散射理論(Mie Scattering Theory):
  采用z精確的米氏散射理論進行數(shù)據(jù)反演計算,而非近似的夫瑯禾費(Fraunhofer)理論。
  優(yōu)勢:能準確測量從亞微米級(如0.02µm)到毫米級(如2000µm)的寬范圍顆粒,尤其對小顆粒(<1µm)和接近散射角度極限的顆粒測量精度更高,并可考慮顆粒的折射率和吸收率,結(jié)果更真實可靠。
  2、先進的光學系統(tǒng)設計:
  長焦距傅里葉光學變換系統(tǒng):確保散射角與探測器位置的精確對應關(guān)系,提高角度分辨率。
  大角度散射光采集:配備多層、高密度的光電探測器陣列,能捕捉到從前向、側(cè)向到后向(高達140°以上)的散射光信號。
  優(yōu)勢:有效提升對亞微米級超細顆粒的分辨能力和測量靈敏度,避免小顆粒信號被大顆粒信號掩蓋。
  3、高動態(tài)范圍與高分辨率探測器:
  采用高靈敏度、低噪聲的光電探測器(如雪崩光電二極管APD用于小角,硅光電二極管用于大角),確保微弱散射信號也能被精確捕捉。
  探測器數(shù)量多(可達百個以上),分布合理,保證數(shù)據(jù)采集的完整性和分辨率。